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전자 회로는 컴퓨터 나 특수 장비에서 발견 되든 모든 구성 요소가 올바르게 작동해야합니다. 해당 회로 내에 포함 된 구성 요소 중 하나라도 고장 나면 해당 회로에 연결된 모든 장치에 심각한 결과를 초래할 수 있습니다.트랜지스터, 다이오드 및 마이크로 칩과 같은 고장난 능동 부품은 종종 저항기와 같은 고장난 수동 부품보다 진단하기가 더 어렵 기 때문에 회로 보드 문제 해결에 시간이 많이 걸리고 종종 실망스러운 프로세스가됩니다. 회로의 트랜지스터가 고장난 것으로 의심되면 회로를 다시 켜기 전에 멀티 미터로 트랜지스터를 테스트해야합니다.
TL; DR (너무 길고 읽지 않음)
전자 회로의 트랜지스터는 자주 실패하지 않습니다. 하다 실패하면 회로의 문제를 진단하기가 어려울 수 있습니다. 트랜지스터가 문제를 일으키는 것으로 의심되는 경우 트랜지스터 유형에 따라 멀티 미터로 회로에서 트랜지스터를 테스트하는 두 가지 방법을 사용할 수 있습니다. 트랜지스터를 좁은 공간에 설치하면 니들 노즈 플라이어가 필요할 수 있습니다.
나쁜 트랜지스터 증상
전자 회로 내에서 트랜지스터와 같은 능동 구성 요소는 저항과 같은 수동 구성 요소와 다르게 작동합니다. 이는 능동 부품이 다양한 전압을 받고 다양한 기능을 수행하도록 설계 되었기 때문입니다. 트랜지스터의 경우 구성 요소는 스위치 또는 전류 증폭기로 작동하도록 만들어집니다. 따라서 트랜지스터 고장으로 인해 전기 단락 및 전기 스파이크로 이어질 수 있으며 특정 환경에서는 치명적인 위험을 초래할 수 있습니다. 그러나 이로 인해 나쁜 트랜지스터 증상을보다 쉽게 파악할 수 있습니다. 전류가 부족하거나 과도하여 회로가 제대로 작동하지 않으면 트랜지스터에 오류가 발생하여 테스트해야 할 수 있습니다.
••• 폴카 도트 이미지 / 폴카 도트 / 게티 이미지접합 전계 효과 트랜지스터 테스트
잠재적으로 결함이있는 트랜지스터는 디지털 멀티 미터로 테스트 할 수 있지만 트랜지스터 유형에 따라 사용되는 테스트 유형이 결정됩니다. Junction Field Effect Transistor 또는 JFET를 테스트하는 경우 멀티 미터 외에 두 개의 1000Ω 저항을 사용해야합니다. 시작하려면 회로가 전원에서 분리되어 있는지 확인한 다음 한 쌍의 니들 노즈 플라이어를 사용하여 회로에서 트랜지스터를 제거하십시오. 다음으로, 하나의 리드를 첫 번째 저항에서 트랜지스터의 드레인 단자로 비 twist니다. 하나의 리드를 두 번째 저항에서 트랜지스터의 소스 단자로 트위스트합니다. 트랜지스터의 게이트 단자와 함께 두 저항의 프리 리드를 꼬습니다. 30 초 정도 기다린 다음 트랜지스터 단자에서 저항을 제거하십시오. 멀티 미터를 켜고 측정 스케일을 "다이오드 테스트"로 설정하십시오. n- 채널 JFET의 경우, 빨간색 멀티 미터 프로브를 트랜지스터 게이트 터미널에 놓고 검은 색 멀티 미터 프로브를 드레인 터미널에 놓습니다. p 채널 JFET의 경우 빨간색 멀티 미터 프로브를 드레인 터미널에 놓고 검은 색 프로브를 게이트 터미널에 놓습니다. 멀티 미터 디스플레이를 확인하십시오. 멀티 미터에 "Pass"등급이 표시되면 JFET이 올바르게 작동하는 것입니다. 멀티 미터에 "실패"등급이 표시되면 JFET를 교체하십시오.
양극 접합 트랜지스터 테스트
바이폴라 접합 트랜지스터를 테스트해야하는 경우 비슷한 단계를 수행 할 수 있지만 저항은 필요하지 않습니다. 멀티 미터를 켜고 측정 스케일을 "다이오드 테스트"로 보냈습니다. NPN 트랜지스터의 경우 빨간색 멀티 미터 프로브를 트랜지스터베이스 단자에 놓고 검은 색 프로브를 컬렉터 단자에 놓습니다. PNP 트랜지스터의 경우 검은 색 멀티 미터 프로브를 기본 터미널에 놓고 빨간색 프로브를 수집기 터미널에 놓습니다. 멀티 미터 디스플레이를 확인하십시오. 멀티 미터에 "Pass"등급이 표시되면 수집기에서 멀티 미터 프로브를 제거하고 이미 터 단자에 놓고 다음 단계로 진행하십시오. 멀티 미터에 "실패"등급이 표시되면 양쪽 단자에서 멀티 미터 프로브를 제거하고 트랜지스터를 교체하십시오.